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光(guāng)焱(yàn)量子(zǐ)科技激光(guāng)掃(sǎo)描(miáo)缺陷(xiàn)測(cè)繪係統激(jī)光掃(sǎo)描缺陷影像儀,是激光束誘(yòu)導(dǎo)電流(liú)測(cè)試(LBIC)的(dí)升級版(bǎn),利(lì)用波長(cháng)能量(liáng)大(dà)於半(bàn)導體能隙(xì)大(dà)的(dí)激光束,照射(shè)在(zài)半導體後產生(shēng)的(dí)電子-空穴(xué)對,通過快(kuài)速的掃描(miáo)樣(yàng)品(pǐn)表(biǎo)麵,獲得(dé)影(yǐng)像分布,可以得到(dào)內(nèi)部電流的變化來了(liǎo)解(jiě)分(fēn)析(xī)各種的(dí)缺(quē)陷(xiàn)分布,幫(bāng)助分析(xī)樣(yàng)品製備質(zhì)量以及幫(bāng)助(zhù)工藝改進。
光焱量子(zǐ)科(kē)技太陽(yáng)光(guāng)模(mó)擬(nǐ)器(qì)SS-F5-3A為太(tài)陽(yáng)能模擬器,用(yòng)以(yǐ)測量太陽(yáng)能(néng)電池(chí)效率,其(qí)光斑大小為5 cm x 5 cm或7 cm x 7 cm。采(cǎi)光纖導(dǎo)光(guāng)功能(néng),可配(pèi)合實(shí)驗室需求,依據場所(suǒ)任(rèn)意(yì)移動,並自(zì)由(yóu)調(tiáo)整(zhěng)出光方(fāng)向,便於應(yīng)用各種領域,也(yě)可(kě)與(yǔ)手套箱結(jié)合(hé)。
光(guāng)焱量(liáng)子科(kē)技圖(tú)像傳感器(qì)測(cè)試係統測試係(xì)統(tǒng)針(zhēn)對CCD,CMOS,image sensor,相機等(děng)圖像影像傳(chuán)感(gǎn)器開(kāi)發(fā),適合多(duō)種規(guī)格的(dí)芯片和板卡性(xìng)能測試,包括(kuò)量子效率,光譜(pǔ)響(xiǎng)應(yīng),係(xì)統增(zēng)益,飽和(hé)照射光子數,小可(kě)探(tàn)測(cè)照射光(guāng)子(zǐ)數,動(dòng)態(tài)範(fàn)圍(wéi),暗電流,綫(xiàn)性(xìng)度(dù)和綫性誤(wù)差,光(guāng)電響應不均匀度,暗信號(hào)不均(jūn)匀度,CRA特性(xìng)測量(liáng)。
光(guāng)焱(yàn)科技(jì)光譜響應測(cè)試係統(tǒng)IPCE量子(zǐ)效率測試(shì)QE-R係(xì)統可(kě)以(yǐ)測試(shì)晶(jīng)矽電(diàn)池(chí)(Si),非晶矽電(diàn)池(a-Si),多(duō)結(jié)電池(Tandem),染(rǎn)料敏化電(diàn)池(DSSC),有(yǒu)機(jī)電池(chí)(OPV),銅(tóng)銦(yīn)镓(jiā)硒(xī)(CIGS),聚(jù)光電池(chí)(HCPV)等各種太(tài)陽能(néng)電池(chí)。
光焱科技QE-R量(liáng)子(zǐ)效(xiào)率(shuài)測量係統采用(yòng)了高(gāo)效的橢(tuǒ)圓(yuán)反射器,比傳統(tǒng)的球形(xíng)透鏡(jìng)和反射器具(jù)有(yǒu)更高(gāo)的(dí)集(jí)光效(xiào)率。且於(yú)60cm x 60cm x 60cm 的(dí)主(zhǔ)體內集成(chéng)了(liǎo)所(suǒ)有光(guāng)學(xué)和機械(xiè)部(bù)件(jiàn),節(jié)省(shěng)了(liǎo)大量實驗室(shì)空間,但(dàn)仍保持(chí)了(liǎo)各種類(lèi)型(xíng)的太(tài)陽能(néng)電池(chí)測試(shì)夾(jiā)具(jù)的靈活(huó)性。並且(qiě)也(yě)提(tí)供(gōng)簡(jiǎn)單而完(wán)整的手套箱集成方案(àn)。