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光焱(yàn)科(kē)技新推出(chū)光炎(yán)量子(zǐ)效率(shuài)光(guāng)傳(chuán)感(gǎn)器(qì)特性(xìng)分(fēn)析儀(yí)PD-QE測(cè)試係統，針(zhēn)對第三(sān)代半導體(tǐ)材(cái)料(liào)Photodiode/Photodetector的相(xiāng)關特(tè)性(xìng)測試，整合(hé)新高(gāo)精密直(zhí)流可(kě)耐電壓偵(zhēn)測(cè)技(jì)術(shù)，與傳統交(jiāo)流(liú)模(mó)式下(xià)測(cè)量(liáng)EQE使用鎖相放大(dà)器，電壓無法(fǎ)加過12V相(xiāng)比，該(gāi)係統(tǒng)高可(kě)輸出(chū)1000V高壓，電(diàn)流量程(chéng)為2pA，精度(dù)達0.1fA，可(kě)滿(mǎn)足(zú)客戶(hù)多(duō)種(zhǒng)量測需求。
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