光(guāng)炎(yán)量子(zǐ)效(xiào)率(shuài)光(guāng)傳感(gǎn)器特性(xìng)分析(xī)儀

簡(jiǎn)要(yào)描述：光(guāng)焱(yàn)科(kē)技(jì)新推出(chū)光(guāng)炎量子效率光傳感器特(tè)性分析(xī)儀PD-QE測試係統，針(zhēn)對第(dì)三代半導體材料Photodiode/Photodetector的(dí)相(xiāng)關特性測(cè)試，整(zhěng)合新高精密直流(liú)可耐(nài)電壓(yā)偵測(cè)技術，與(yǔ)傳統(tǒng)交流模式(shì)下(xià)測量(liáng)EQE使用鎖相放(fàng)大器，電(diàn)壓無(wú)法加過(guò)12V相比，該(gāi)係(xì)統高可輸(shū)出(chū)1000V高壓，電(diàn)流(liú)量程(chéng)為(wéi)2pA，精(jīng)度(dù)達(dá)0.1fA，可(kě)滿(mǎn)足(zú)客戶多(duō)種(zhǒng)量測需求(qiú)。

產品型號： PD-QE

所屬分(fēn)類：光焱量(liáng)子(zǐ)效率(shuài)測量係統

更(gēng)新時間：2024-10-10

廠商(shāng)性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

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詳情介紹(shào)

品牌	其他品牌	應(yīng)用領域(yù)	醫療(liáo)衛生,化(huà)工(gōng),生物(wù)產業,能源(yuán),電(diàn)子/電(diàn)池(chí)

PD-QE光炎(yán)量子效(xiào)率光(guāng)傳感器特(tè)性(xìng)分析(xī)儀介紹(shào)：

光焱科(kē)技新推出PD-QE測試係統(tǒng)，針對第三(sān)代半導體材料(liào)Photodiode/Photodetector的相關特性測試，整(zhěng)合新高精密直流(liú)可(kě)耐電(diàn)壓偵測(cè)技術，與(yǔ)傳統(tǒng)交(jiāo)流模(mó)式下測量(liáng)EQE使(shǐ)用鎖相放(fàng)大(dà)器，電壓(yā)無(wú)法(fǎ)加過12V相比，該係統(tǒng)高可輸出1000V高壓(yā)，電(diàn)流量程為2pA，精度達(dá)0.1fA，可滿足客戶(hù)多種量測需(xū)求(qiú)。

PD-QE光(guāng)炎量(liáng)子效率光傳(chuán)感(gǎn)器(qì)特性分(fēn)析儀特點(diǎn)：

使用均匀光(guāng)斑的(dí)"照(zhào)度模式"(Irradiance Mode)符(fú)合ASTM E1021；

取(qǔ)代傳統聚焦小光(guāng)斑，可以(yǐ)測試um等級(jí)的(dí)光(guāng)電傳(chuán)感(gǎn)器；

均匀(yún)光斑(bān)可以克服色散差(chà)與(yǔ)像差的問題，可準(zhǔn)確(què)測得EQE曲綫(xiàn)；

可(kě)搭(dā)配多種(zhǒng)探針(zhēn)台係(xì)統(tǒng)，實(shí)現非(fēi)破壞(huài)性的(dí)快(kuài)速(sù)測(cè)試；

集成的光學(xué)與(yǔ)測試係統(tǒng)，提(tí)高(gāo)係(xì)統搭建效(xiào)率；

一(yī)鍵(jiàn)式(shì)自(zì)動(dòng)化(huà)測(cè)試軟件，自(zì)動全光譜(pǔ)校正(zhèng)與測(cè)量，工(gōng)作效率高。

測(cè)試(shì)特(tè)性：

外(wài)部(bù)量(liáng)子(zǐ)效率(shuài)EQE

光(guāng)譜響應(yīng)SR

I-V曲(qū)綫測(cè)量

NEP光(guāng)譜(pǔ)測量

D*光譜(pǔ)測(cè)量

Noise-current-frequency響應圖(A/Hz-1/2;0.01Hz~1,000Hz)

Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析

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